WEKO3
アイテム
ELECTRON MICROSCOPIC ANALYSIS OF FATIGUE CRACK TIPS IN AN AL-CU ALLOY
https://doi.org/10.32286/0002001437
https://doi.org/10.32286/00020014379c693a83-dd3f-4f20-a0ce-9db927349133
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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KU-1100-20240320-01.pdf (1.9 MB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2024-05-07 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | ELECTRON MICROSCOPIC ANALYSIS OF FATIGUE CRACK TIPS IN AN AL-CU ALLOY | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||||||||||||||
| ID登録 | ||||||||||||||||||
| ID登録 | 10.32286/0002001437 | |||||||||||||||||
| ID登録タイプ | JaLC | |||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||||||||||||
| 著者 |
高橋, 可昌
× 高橋, 可昌× 清水, 智弘× 中村, 篤智
× 荒井, 重勇
× 宅間, 正則× 齋藤, 賢一
WEKO
1743
× 佐藤, 知広 |
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| 概要 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | To elucidate the micro-mechanism of fatigue crack growth (FCG), this study conducts a direct analysis of the crack tip using several electron microscopic techniques. Particular attention is paid to FCG within a precipitation-hardened alloy, specifically aluminum (Al) - 2.4% copper (Cu). A small specimen containing the target crack tip is cut from a fatigued bulk specimen, and the two-step ion beam polishing method is applied to analyze its cross-section. It was found that FCG is strongly related to the formation of a dislocation cell structure, the size of which depends on the applied stress intensity factor range, ΔK. | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 内容記述 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | Kansai University Expenditures for Support of Training Young Scholars (3D mapping of line defects around a fatigue crack tip: application of high-voltage STEM method, 2017-2018). | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 内容記述 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | 2017年度 関西大学若手研究者育成経費「疲労亀裂先端の線欠陥3Ｄマッピング：超高圧ＳＴＥＭ法による挑戦」 | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| 内容記述 | ||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||||||||||||||
| 内容記述 | KAKENHI 21H04536 | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Science and technology reports of Kansai University = 関西大学理工学研究報告 巻 66, p. 1-8, 発行日 2024-03-20 |
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| ISSN | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 04532198 | |||||||||||||||||
| 書誌レコードID | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA12314657 | |||||||||||||||||
| 著者版フラグ | ||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | Kansai University | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 出版者（他言語） | ||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| 値 | 関西大学 | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | Fatigue crack growth | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | Crack tip | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | Electron microscopy | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | Aluminum alloys | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | Precipitates | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | 関西大学 | |||||||||||||||||
| キーワード | ||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 主題Scheme | Other | |||||||||||||||||
| 主題 | Kansai University | |||||||||||||||||
