WEKO3
アイテム
Low-Frequency Current Fluctuations in Post-Hard Breakdown Thin Silicon Oxide Films
http://hdl.handle.net/10112/916
http://hdl.handle.net/10112/916999d18c9-ffff-4446-b48d-6438764c16b7
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
KU-1100-20090320-03.pdf (757.7 kB)
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| Item type | 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1) | |||||
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| 公開日 | 2010-02-10 | |||||
| タイトル | ||||||
| タイトル | Low-Frequency Current Fluctuations in Post-Hard Breakdown Thin Silicon Oxide Films | |||||
| 言語 | ||||||
| 言語 | eng | |||||
| 資源タイプ | ||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||
| 資源タイプ | departmental bulletin paper | |||||
| 著者 |
Omura, Yasuhisa
× Omura, Yasuhisa |
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| 著者別名 | ||||||
| 識別子Scheme | WEKO | |||||
| 識別子 | 28353 | |||||
| 姓名 | 大村, 泰久 | |||||
| 書誌情報 |
Science and technology reports of Kansai University = 関西大学理工学研究報告 巻 51, p. 17-23, 発行日 2009-03-20 |
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| ISSN | ||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||
| 収録物識別子 | 04532198 | |||||
| 書誌レコードID | ||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||
| 収録物識別子 | AA12314657 | |||||
| 著者版フラグ | ||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||
| 出版者 | ||||||
| 出版者 | Kansai University | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Low-Frequency Current Fluctuations | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Thin Silicon Oxide Film | |||||
| キーワード | ||||||
| 主題Scheme | Other | |||||
| 主題 | Post-Hard Breakdown | |||||
| フォーマット | ||||||
| 内容記述タイプ | Other | |||||
| 内容記述 | application/pdf | |||||
