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  1. 1100 学部・機構・専門職大学院
  2. 理工系学部
  3. 関西大学工学研究報告 = Technology reports of the Kansai University
  4. 第49号

Impacts of Geometrical Aspect Ratio on Drivability and Short-Channel-Effects of Multi-Gate SOI MOSFET's

http://hdl.handle.net/10112/12448
http://hdl.handle.net/10112/12448
53a627d0-c104-468c-8dce-5233f2955e33
名前 / ファイル ライセンス アクション
KU-1100-20070320-03.pdf KU-1100-20070320-03.pdf (817.6 kB)
Item type 紀要論文 / Departmental Bulletin Paper(1)
公開日 2018-02-22
タイトル
タイトル Impacts of Geometrical Aspect Ratio on Drivability and Short-Channel-Effects of Multi-Gate SOI MOSFET's
言語
言語 eng
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
著者 Konishi, Hideki

× Konishi, Hideki

WEKO 52875

Konishi, Hideki

Search repository
Omura, Yasuhisa

× Omura, Yasuhisa

WEKO 28231
e-Rad 20298839

Omura, Yasuhisa

Search repository
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 28232
姓名 小西, 秀貴
著者別名
識別子Scheme WEKO
識別子 28233
姓名 大村, 泰久
概要
内容記述タイプ Other
内容記述 This paper proposes a design guideline for the aspect ratio (Rh/w) of the fin height (h) to fin width (w) of 3-D devices (FinFET like double-gate (DG) FET and triple-gate (TG)-FET) that is based on device simulations. Since any change in the aspect ratio yields the trade-off between drivability and short-channel effects, it is shown that optimization of the aspect ratio is essential in designing 3-D architectural devices. We found that the increase in w seems to bring a high drive current (Ion) and an enhancement of Ion, but that a large w is undesirable for shorter channel length (L) devices because the drain-induced barrier lowering (DIBL) effect is enhanced ; TG-FET is superior to FinFET in terms of both drivability and short-channel effects. In addition, we found that the guideline of w<L/3 is essential for suppression of the short-channel effects of TG-FET's. We conclude, therefore, that a narrow, high fin is best for high performance TG-FET's that offer suppressed short-channel effects.
書誌情報 関西大学工学研究報告 = Technology reports of the Kansai University

巻 49, p. 19-27, 発行日 2007-03-20
ISSN
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 04532198
書誌レコードID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AN00046916
著者版フラグ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
出版者
出版者 関西大学工学部
キーワード
主題Scheme Other
主題 関西大学
キーワード
主題Scheme Other
主題 Kansai University
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Ver.1 2023-05-15 14:09:49.839481
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